ES8P508x ClassB STL 修改记录

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V1.0.0
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2019.08.08（wangyq）
（编译器版本：keil V4.72.0.0（优化等级O0）/ IAR V8.11.1（优化等级00））
1.ClassB代码包与例程共用一个启动文件(Keil/IAR)，删除startup_HR8P506_STL.s文件, CHECKSUM放到ES_STLcpustartKEIL.s;
2.ClassB默认使用PLL 48MHz(时钟源HRC)，删除PLL测试相关代码;
3.ClassB支持Full Ram自检;
4.重新格式化刷新ClassB代码。


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V1.0.1
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2019.09.16（zhuxf）
（编译器版本：keil V4.72.0.0（优化等级O0）/ IAR V8.11.1（优化等级00））
1.运行时钟检测改为RTC(LRC)
2.启动时钟检测改为WDT(LRC)
3.运行时钟检测改为RTC(LRC)

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V1.1.0
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2020.02.01（zhuxf）
（编译器版本：keil V4.72.0.0（优化等级O0）/ IAR V8.11.1（优化等级00））
1.DeviceClockAllEnable()改为DeviceClockAllEnableButIAP()，以加强IAP误擦防护
2.增加B类变量AbandonTimes，在运行自检进行时钟检测时用来舍弃前2次的检测值
3.将IAR下的crc算法和keil一致
4.修订了STL_crc16Run函数的bug，原程序当crc结果存放在非block起始位置时，运行自检crc结果错误
5.新增SYSTICK_5MS_COUNT宏定义，方便代码移植
6.对以下宏定义命名进行修改，便于理解
  SYSTICK_20ms_TB改为SYSTICK_100ms_TB
  SYSTICK_10ms_TB改为SYSTICK_1s_TB 
  SYSTICK_10ms_TB_MAX改为SYSTICK_1s_TB_MAX
  SYSTICK_10ms_TB_MIN改为SYSTICK_1s_TB_MIN
  ROM_SIZEinWORDS改为FLASH_SIZEinWORDS	
  ROM_START改为FLASH_START	
  ROM_END改为FLASH_END	
  ROM_SIZE改为FLASH_SIZE	
  变量名RomTest改为FlashTest	
7.对以下没有用到的宏定义进行了删除
  CLOCK_SWITCH_TIMEOUT、HSI_Freq、LSI_START_TIMEOUT、HSE_START_TIMEOUT、CLOCK_SWITCH_TIMEOUT、PLL_LOCK_TIMEOUT、HSI_Freq、HSE_LimitHigh、HSE_LimitLow、CRC32_INIT_CALLEE、CRC32_TEST_CALLER、CRC32_TEST_CALLEE、CRC_TEST_CALLER、CRC16_INIT_CALLEE、CLOCK_SWITCH_CALLEE、CLOCKPERIOD_TEST_CALLEE、CRC32_RUN_TEST_CALLEE、MEASPERIOD_ISR_CALLER、MEASPERIOD_ISR_CALLEE、DELTA_ISR、RAM_TEST_COMPLETED、CLASS_B_ROWS 						







